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晶体的质量是其元器件制备的关键之一，蚀坑密度（EPD）的观测是检验晶体质量的一个重要方法．用改进的Bridgman法长长出AgGa2-xInxSe2（x=0．2......

介绍了计算机-金相显微镜系统的工作原理,同传统金相检测进行对比,论述了计算机在金相技术中的应用.......